[发明专利]校正装置无效
| 申请号： | 200980154425.5 | 申请日： | 2009-02-12 |
| 公开（公告）号： | CN102282722A | 公开（公告）日： | 2011-12-14 |
| 发明（设计）人： | 原六蔵;森田晋一;真庭久和 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | H01Q3/26 | 分类号： | H01Q3/26;H04B7/04 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 崔成哲 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在校正装置中，校正矩阵计算处理部(104)使用正交矢量存储部(103b)中存储的正交矢量和阵列模式矢量存储部(102)中存储的阵列模式矢量(a(θ))，推测校正矩阵(M)。校正矩阵输出部(105)将由校正矩阵计算处理部(104)计算出的校正矩阵(M)发送到未知参数推测装置。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 装置 | ||
【主权项】：
一种校正装置，用于对由多个传感器接收到的观测数据进行校正，该校正装置具备：观测数据矢量生成处理部，从所述多个传感器接收所述观测数据，根据该接收到的所述观测数据生成观测数据矢量；模式矢量关联处理部，能够计算或者能够预先存储与所述观测数据矢量对应的模式矢量，并且能够预先存储所述模式矢量的正交矢量；以及校正用参数计算部，从所述观测数据矢量生成处理部取得所述观测数据矢量，并且从所述模式矢量关联处理部取得与该取得的所述观测数据矢量对应的所述模式矢量的所述正交矢量，根据该取得的所述正交矢量以及所述观测数据矢量，计算用于对所述观测数据矢量包含的观测误差进行校正的多个校正用参数。
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