[发明专利]具有多个马赫-增德尔干涉仪的光调制器的特性测评方法有效
| 申请号： | 200980161303.9 | 申请日： | 2009-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN102575971A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 川西哲也;千叶明人;市川润一郎;须藤正明 | 申请（专利权）人： | 独立行政法人情报通信研究机构;住友大阪水泥股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G02F1/035 |
| 代理公司： | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 | 代理人： | 韩登营 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种包含多个马赫-增德尔干涉仪(MZI)的光调制器的特性的测评方法。该方法包括测定输出光强度的步骤与测评马赫-增德尔干涉仪的特性的步骤。所述测定输出光强度的步骤为求得所述光调制器所输出的输出光中所包含的边频信号的强度(Sn，k)的步骤。所述测评马赫-增德尔干涉仪的特性的步骤为用所述边频信号的强度(Sn，k)测评第K个马赫-增德尔干涉仪(MZIK)的特性的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 马赫 增德尔 干涉仪 调制器 特性 测评 方法 | ||
【主权项】：
一种方法，为包含多个马赫‑增德尔干涉仪(MZI)的光调制器的特性测评方法，其特征在于，设所述光调制器包含并联的N个(N为2以上的整数)MZI，测评对象MZI为第K个MZI(MZIK)，所述MZIK的n次边频成分的强度为Sn，k，所述方法包括测定输出光强度的步骤与测评MZI的特性的步骤，所述测定输出光强度的步骤为求得所述光调制器所输出的输出光中所包含的边频信号的强度(Sn，K)的步骤，所述测评MZI的特性的步骤为用所述Sn，k测评所述MZIK的特性的步骤。
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