[发明专利]三维测量装置有效

专利信息
申请号: 201010002371.5 申请日: 2010-01-12
公开(公告)号: CN101782525A 公开(公告)日: 2010-07-21
发明(设计)人: 石垣裕之 申请(专利权)人: CKD株式会社
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人: 刘激扬
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的课题在于提供一种三维测量装置,其不采用远心光学系统,谋求测量精度的提高。具有三维测量装置的基板检查设备包括照射装置(4),其对印刷有焊锡膏的印刷基板的表面,照射条纹状的图案光;对印刷基板上的已照射的部分进行摄像用的CCD照相机(5);控制装置,其根据通过CCD照相机(5)摄像的图像数据,进行印刷基板上的各坐标位置的高度测量。另外,控制装置根据CCD照相机(5)的高度(Lco),与对印刷基板照射的图案光的照射角(α),对会由CCD照相机(5)的透镜(5a)的视场角产生的测量数据的偏差进行补偿。
搜索关键词: 三维 测量 装置
【主权项】:
一种三维测量装置,其包括:照射机构,该照射机构可至少对被测量物,照射具有条纹状的光强度分布的图案光;摄像机构,该摄像机构可对来自照射了上述图案光的被测量物的反射光进行摄像;图像处理机构,该图像处理机构至少根据通过上述摄像机构摄制的图像数据,进行上述被测量物上的各坐标位置的高度测量,其特征在于三维测量装置包括补偿运算机构,该补偿运算机构至少根据上述摄像机构的高度信息,与对上述被测量物照射的图案光的照射角信息,对相对通过上述图像处理机构测量的上述被测量物上的测量对象点的坐标数据和高度数据,由上述摄像机构的透镜的视场角产生的偏差进行补偿。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于CKD株式会社,未经CKD株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010002371.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top