[发明专利]用于X射线荧光光谱仪的光谱信号获取装置有效
| 申请号： | 201010004422.8 | 申请日： | 2010-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN102128847A | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | 刘召贵;张波 | 申请（专利权）人： | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李丽 |
| 地址： | 215347 江苏省昆山*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于X射线荧光光谱仪的光谱信号获取装置，包括：载物台，用于承载样品；X射线发生装置，用于发射一次X射线；探测器，用于探测所述样品受X射线照射时产生的荧光，获取对应的光谱信号；二次靶台，用于放置二次靶材；联用控制装置，用于控制所述X射线发生装置使其发射的一次X射线照射所述样品或所述二次靶材，所述二次靶材受所述一次X射线照射时产生的二次X射线照射至所述样品。将一次X射线和二次X射线一起使用，探测器获取的荧光光谱信号背景峰减少，从而可以使分析荧光光谱信号的控制系统可以分析出样品中高含量的元素和低含量的元素。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 射线 荧光 光谱仪 光谱 信号 获取 装置 | ||
【主权项】：
一种用于X射线荧光光谱仪的光谱信号获取装置，包括：载物台，用于承载样品；X射线发生装置，用于发射一次X射线；探测器，用于探测所述样品受X射线照射时产生的荧光，获取对应的光谱信号；其特征在于，还包括：二次靶台，用于放置二次靶材；联用控制装置，用于控制所述X射线发生装置使其发射的一次X射线照射所述样品或所述二次靶材，所述二次靶材受所述一次X射线照射时产生的二次X射线照射至所述样品。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏天瑞仪器股份有限公司，未经江苏天瑞仪器股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010004422.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
