[发明专利]发光元件的缺陷检测方法及系统无效
| 申请号： | 201010004590.7 | 申请日： | 2010-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN102128816A | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | 欧震;徐宸科;陈俊昌;苏文正;郭端祥 | 申请（专利权）人： | 晶元光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 发光元件的缺陷检测方法及系统。该发光元件的缺陷检测方法，应用于检测一待测发光元件，可利用一能阶大于待测发光元件的检测光源照射待测发光元件，以激发待测发光元件发出荧光，而当待测发光元件具有缺陷时，缺陷便会被荧光照射而显示出来。根据以上方法的精神，本发明亦提出一种发光元件的缺陷检测系统，包括有用以承载待测发光元件的一承载体，用以向待测发光元件发射前述检测光源的一光源发射单元、以及一用以判断所测得缺陷的判断单元。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 元件 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种发光元件的缺陷检测系统，应用于检测至少一待测发光元件，包括：一承载体，用以承载该待测发光元件；一光源发射单元，用以向该待测发光元件发射高于该待测发光元件的能阶的检测光源，以使该待测发光元件发出萤光；以及一判断模块，用以判断该待测发光元件是否有缺陷，当该待测发光元件具有至少一缺陷时，该缺陷便会受萤光的照射而显示出来。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶元光电股份有限公司，未经晶元光电股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010004590.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
