[发明专利]预报集成电路静电放电失效的测试电路及预测方法无效
| 申请号： | 201010013579.7 | 申请日： | 2010-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN101762781A | 公开（公告）日： | 2010-06-30 |
| 发明（设计）人： | 庄奕琪;辛维平;李小明 | 申请（专利权）人： | 西安西电科大射频集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人： | 王品华;朱红星 |
| 地址： | 710065 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种预报集成电路静电放电失效的测试电路及预测方法。其利用失效测试电容(8，9)在ESD应力作用下的退化衡量集成电路中MOS器件在ESD应力下的衰退；利用二极管(3，4)组成的静电放电应力耦合电路将ESD保护电路未泻放掉的ESD应力耦合到失效测试电容(8，9)上；同时，应力及延迟控制器电路检测到ESD应力后产生控制信号并传输给应力控制电路(12)，开启由二极管(5，6)，开关电路(11)以及升压电容(10)构成升压电路并产生高应力电压，使失效测试电容(8，9)加速衰退，如果失效测试电容(8，9)失效，比较器(14)将输出一个失效信号，预示着集成电路即将实效，实现实时预报。本发明可用于对集成电路静电放电失效的预报。 | ||
| 搜索关键词： | 预报 集成电路 静电 放电 失效 测试 电路 预测 方法 | ||
【主权项】：
一种预报集成电路静电放电失效的测试电路，其特征在于：它包括：四个二极管(3，4，5，6)、箝位二极管(7)、两个失效测试电容(8，9)、升压电容(10)、开关电路(11)、应力及延迟控制器电路(12)、应力控制器电路(13)和比较器(14)，这些元件均设置在集成电路的端口周围；该二极管(5，6)与开关电路(11)以及升压电容(10)连接，构成升压电路；该应力及延迟控制器电路(12)与第二个失效测试电容(9)、第二个二极管(4)连接，用于检测静电放电应力和产生控制信号，并将信号传输给应力控制器电路(13)；该比较器(14)与两个失效测试电容(8，9)和箝位二极管(7)连接，箝位二极管(7)对两个失效测试电容(8，9)上的电压进行箝位，当在两个失效测试电容(8，9)失效时，比较器(14)输出失效报警信号。
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