[发明专利]透明材料的厚度检测方法和装置无效
| 申请号： | 201010104026.2 | 申请日： | 2010-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN101762238A | 公开（公告）日： | 2010-06-30 |
| 发明（设计）人： | 徐熙平;张宁;乔杨 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 130022 *** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种透明材料的厚度检测方法和装置，其中装置，包括光学测量系统、光学分析系统和数据处理系统，光学测量系统用于输出宽带光并接收被测透明材料的反射光将其输出到光学分析系统；所述光学分析系统用于对接收到的被测透明材料的反射光进行分析以获取反射峰对应的波长值；所述数据处理系统用于根据所述光学分析系统获取的反射峰对应的波长值获取被测透明材料的厚度。本发明实施例还提供了基于上述装置的透明材料的厚度检测方法。本发明上述实施例提供的透明材料的厚度检测方法和装置，能够实现准确、快速的对透明材料的厚度进行在线测量。 | ||
| 搜索关键词： | 透明 材料 厚度 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种透明材料的厚度检测装置，其特征在于，包括光学测量系统、光学分析系统和数据处理系统，其中光学测量系统包括宽带光源、输入光纤、光纤耦合器、接收光纤以及包括至少一个透镜的光学发射系统，所述宽带光源发出的光经输入光纤、光纤耦合器传输到光学发射系统，被测透明材料反射的光经光纤耦合器、接收光纤传输到所述光学分析系统；所述光学分析系统用于对接收到的被测透明材料的反射光进行分析以获取反射峰对应的波长值；所述数据处理系统用于根据所述光学分析系统获取的反射峰对应的波长值获取被测透明材料的厚度。
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