[发明专利]用于荧光分析仪上的X射线检测方法有效
| 申请号： | 201010108168.6 | 申请日： | 2010-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN101782537A | 公开（公告）日： | 2010-07-21 |
| 发明（设计）人： | 赵建军;周俊武;李杰;赵宇;徐宁 | 申请（专利权）人： | 北京矿冶研究总院 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;赵镇勇 |
| 地址： | 100044 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于荧光分析仪上的X射线检测方法，首先利用布拉格定律将被测对象的特征X射线分离出来；然后对分离出来的特征X射线用X射线探测器检测，得到光谱数据，并对分离后的特征X射线的光谱数据用能量色散的方法进行处理。还单独用一个高分辨率的X射线探测器检测分光前的所有元素的特征X射线并用能量色散的方法进行谱峰计算。用两种方法处理后的数据进行品位计算，相比单用一种分析方法，可提高品位分析精度，尤其适用于被测对象的物理性质变化较大、低品位测量和非金属元素测量的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 荧光 分析 射线 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种用于荧光分析仪上的X射线检测方法，其特征在于，它是波长色散和能量色散相结合的检测方法，包括步骤：A、利用布拉格定律将被测对象的特征X射线分离出来；B、对分离出来的特征X射线用X射线探测器检测，得到光谱数据；C、将步骤A中得到的分离后的特征X射线的光谱数据用能量色散的方法进行处理。
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