[发明专利]光学测量设备

摘要

本发明公开一种光学测量设备，用于测量至少一个待测件的厚度，此光学测量设备包括基座、光学测量模块、转动件及控制模块。光学测量模块及转动件均配置于基座上。转动件用于承载待测件并带动待测件转动。控制模块配置于基座上且电性连接至光学测量模块及转动件。控制模块适于控制光学测量模块与转动件相对移动，使光学测量模块对准待测件，并控制转动件转动，以测量待测件的厚度。上述光学测量设备可提高测量精准度及效率。

主权项

一种光学测量设备，用于测量至少一待测件的厚度，其特征在于，该光学测量设备包括：一基座；一光学测量模块，配置于该基座上；一转动件，配置于该基座上，该转动件用于承载该待测件，并带动该待测件转动；以及一控制模块，配置于该基座上，且电性连接至该光学测量模块及该转动件，该控制模块适于控制该光学测量模块与该转动件相对移动，使该光学测量模块对准该待测件，并控制该转动件转动，以测量该待测件的该厚度。