[发明专利]一种芯片测试的方法和装置有效
| 申请号： | 201010165354.3 | 申请日： | 2010-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN102236068B | 公开（公告）日： | 2015-11-25 |
| 发明（设计）人： | 胡伟锋 | 申请（专利权）人： | 无锡中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 郭海彬 |
| 地址： | 214028 江苏省无锡市新区长江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种芯片测试的方法和装置，所述方法用于自动测试设备，包括如下步骤：读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息；保存修改后的测试向量源文件；通过所述自动测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试，从而省去测试中所述没有实际输入或输出的管脚描述信息所占用的资源。本发明能够节省ATE的资源提高测试效率，解决现有技术测试向量源文件耗费了大量的时间和资源，测试效率低下的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片测试的方法，用于自动测试设备，其特征在于，包括如下步骤：读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息；保存修改后的测试向量源文件；通过所述自动测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡中星微电子有限公司，未经无锡中星微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010165354.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
