[发明专利]凹陷沟道型PNPN场效应晶体管的集成电路及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201010221408.3 申请日: 2010-07-08
公开(公告)号: CN101894840A 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 臧松干;刘昕彦;王鹏飞;张卫 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L29/78;H01L29/10;H01L21/8234
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于集成电路技术领域,具体公开了一种半导体集成电路。该半导体集成电路包括一个栅控PNPN晶体管和一个MOS晶体管。所述集成电路中的栅控PNPN晶体管和MOS晶体管均采用凹陷型沟道结构,可在提高驱动电流的同时抑制漏电流的增加,即在降低芯片功耗的同时提高了芯片的性能。本发明还公开了所述半导体集成电路的制造方法。本发明所提出的半导体集成电路,特别适用于低功耗集成电路芯片的制造。
搜索关键词: 凹陷 沟道 pnpn 场效应 晶体管 集成电路 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体集成电路,其特征在于,所述半导体集成电路包括至少一个半导体衬底、在所述半导体衬底上形成的一个栅控PNPN晶体管和一个MOS晶体管。
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