[发明专利]半导体集成电路装置无效

专利信息
申请号: 201010223388.3 申请日: 2010-07-02
公开(公告)号: CN101944532A 公开(公告)日: 2011-01-12
发明(设计)人: 近藤将夫;后藤聪;森川正敏 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L29/94;H01L29/36
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 屠长存
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及半导体集成电路装置。SOI MOSFET被用于切换天线开关的晶体管,但显著减小谐波失真。将电容元件分别添加到构成天线开关的接收支路的通过MOSFET组的晶体管的相应的漏极或栅极。这使得在源极与栅极之间的电压振幅和在漏极与栅极之间的电压振幅彼此不同。结果,源极-漏极寄生电容的电压依赖性变成关于电压极性是不对称的。该不对称特性产生具有类似的不对称特性的信号失真。因此,通过设置它使得它具有与由衬底电容的电压依赖性引起的二次谐波相同的振幅和与之相反的相位可以实现以下:可以抵消二次谐波失真并且因此可以减小二次谐波失真。
搜索关键词: 半导体 集成电路 装置
【主权项】:
一种半导体集成电路装置,包括:至少一个天线端子;至少一个发送端子;以及至少一个接收端子,并且设置有用于切换信号路径的天线开关,其中天线开关包括:第一晶体管组,耦接在天线端子与发送端子之间;第二晶体管组,耦接在天线端子与接收端子之间;第三晶体管组,耦接在发送端子与参考电位之间;第四晶体管组,耦接在接收端子与参考电位之间;以及第一电容元件,其中第一到第四晶体管组中的每个晶体管组包括串联耦接的一个或更多个晶体管,并且其中第一电容元件耦接在构成第一到第四晶体管组的晶体管中的至少一个晶体管的栅极与源极之间或者栅极与漏极之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞萨电子株式会社,未经瑞萨电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010223388.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top