[发明专利]SRAM型FPGA数字时序电路在线检测容错系统及方法无效

专利信息
申请号: 201010232646.4 申请日: 2010-07-21
公开(公告)号: CN101930052A 公开(公告)日: 2010-12-29
发明(设计)人: 谢永乐;张靖悉;李西峰;王林景;孟劲松 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317;G01R31/3185
代理公司: 成都赛恩斯知识产权代理事务所(普通合伙) 51212 代理人: 王璐瑶
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了SRAM型FPGA数字时序电路在线检测容错系统及方法。本发明中被检测容错的时序电路分割为组合逻辑和时序逻辑,分别先后对组合逻辑和时序逻辑进行三模冗余和多数表决掩盖故障,得到冗余时序电路;冗余时序电路在物理结构上分为三个独立的动态重构区域和一个静态区域,由总线宏处理动态重构区域和静态区域的通信;三个冗余的组合逻辑分别物理约束到三个独立的动态重构区域,三个冗余的时序逻辑物理约束在静态区域。与现有技术相比,本发明结合两级冗余和重配置技术,既能在线提高系统可靠性,又能减少实现资源,降低设计电路功耗。
搜索关键词: sram fpga 数字 时序电路 在线 检测 容错 系统 方法
【主权项】:
SRAM型FPGA数字时序电路在线检测容错系统,其特征在于:包括冗余时序电路、检测容错控制模块和配置文件存储器;冗余时序电路接受输入信号、经故障掩盖后产生无错最终功能输出,同时与检测容错控制模块相连,冗余时序电路向检测容错控制模块发送三模冗余输出信号、检测容错控制模块向冗余时序电路发送总线使能信号;被检测容错的时序电路分割为组合逻辑和时序逻辑,分别先后对组合逻辑和时序逻辑进行三模冗余和多数表决掩盖故障,得到冗余时序电路;冗余时序电路在物理结构上分为三个独立的动态重构区域和一个静态区域,由总线宏处理动态重构区域和静态区域的通信;三个冗余的组合逻辑分别物理约束到三个独立的动态重构区域,并得到三模冗余输出信号,然后输出到检测容错控制模块进行故障检测;三个冗余的时序逻辑物理约束在静态区域;检测容错控制模块分别与冗余时序电路和配置文件存储器相连,主要检测冗余时序电路中是否有组合逻辑发生故障,并进行故障定位和容错;配置文件存储器与检测容错控制模块相连,用于存储整个检测容错系统的全配置文件和动态重构区域的部分配置文件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010232646.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top