[发明专利]用于使图形密度加倍的方法有效
申请号: | 201010237978.1 | 申请日: | 2010-07-26 |
公开(公告)号: | CN101969024A | 公开(公告)日: | 2011-02-09 |
发明(设计)人: | 程慷果;B·B·多里斯;古川俊治 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;H01L21/20 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 于静;杨晓光 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及用于使图形密度加倍的方法。一种方法在主层上沉积未掺杂的硅层,在所述未掺杂的硅层上沉积帽层,构图在所述帽层上的掩蔽层,并将所述未掺杂的硅层构图成硅芯部。该方法在这样的工艺中将杂质引入所述硅芯部的侧壁中,该工艺使所述硅芯部的侧壁部分掺杂有杂质并使所述硅芯部中的至少一些的中心部分未掺杂。该方法去除所述帽层而留下位于所述主层上的所述硅芯部,并执行选择性材料去除工艺,以去除所述硅芯部的所述中心部分并使所述硅芯部的所述侧壁部分留在所述主层上。该方法使用所述硅芯部的所述侧壁部分作为构图掩模而至少构图所述主层,并且去除所述硅芯部的所述侧壁部分以至少留下构图后的所述主层。 | ||
搜索关键词: | 用于 图形 密度 加倍 方法 | ||
【主权项】:
一种方法,包括:在主层上沉积未掺杂的硅层;在所述未掺杂的硅层上沉积帽层;构图在所述帽层上的掩蔽层,所述掩蔽层具有开口;通过去除由所述掩蔽层中的所述开口暴露的所述未掺杂的硅层的部分和所述帽层的对应部分而将所述未掺杂的硅层构图成硅芯部;去除所述光致抗蚀剂层,以留下位于所述主层上的所述硅芯部以及所述硅芯部上的帽层芯部;在这样的工艺中将杂质引入所述硅芯部的侧壁中,所述工艺使得所述硅芯部的侧壁部分掺杂有杂质并使所述硅芯部中的至少一些的中心部分未掺杂,在单独的硅芯部内,所述硅芯部的所述中心部分位于所述硅芯部的所述侧壁部分之间;去除所述帽层芯部而留下位于所述主层上的所述硅芯部;执行选择性材料去除工艺,以去除所述硅芯部的所述中心部分并使所述硅芯部的所述侧壁部分留在所述主层上;使用所述硅芯部的所述侧壁部分作为构图掩模来至少构图所述主层;以及去除所述硅芯部的所述侧壁部分以至少留下构图后的所述主层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造