[发明专利]非易失性存储器件和系统及非易失性存储器件编程方法有效
申请号: | 201010260550.9 | 申请日: | 2010-08-24 |
公开(公告)号: | CN101996680A | 公开(公告)日: | 2011-03-30 |
发明(设计)人: | 林瀛湖;姜东求;金亨埈 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C16/02 | 分类号: | G11C16/02;G11C16/14 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 钱大勇 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 一种对包括N比特多电平单元(MLC)存储单元的非易失性存储器编程的方法包括:使用递增步长脉冲编程(ISPP)方法执行第一至第(N-1)页编程操作,以将第一至第(N-1)数据页编程在该MLC存储单元中,其中第一至第(N-1)页编程操作的每一个包括该MLC存储单元当中的擦除单元的擦除编程。该方法还包括使用该ISPP方法执行第N页编程操作,以将第N数据页编程在该MLC存储单元中。 | ||
搜索关键词: | 非易失性存储器 系统 编程 方法 | ||
【主权项】:
一种对包括N比特多电平单元MLC存储单元的非易失性存储器编程的方法,其中N是2或更大的整数,所述方法包括:使用递增步长脉冲编程ISPP方法执行第一至第(N‑1)页编程操作,以将第一至第(N‑1)数据页编程在该MLC存储单元中,其中第一至第(N‑1)页编程操作的每一个包括该MLC存储单元当中的擦除单元的擦除编程,使用该ISPP方法执行第N页编程操作,以将第N数据页编程在该MLC存储单元中。
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