[发明专利]芯片测试电路有效
| 申请号： | 201010267091.7 | 申请日： | 2010-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN101915892A | 公开（公告）日： | 2010-12-15 |
| 发明（设计）人： | 袁德铭;张益豪;陈鹏宇 | 申请（专利权）人： | 钰创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明有关于一种芯片测试电路利用判断电路将接口电路于不同压缩群组的输出入单元间进行切换，而可达成利用单一接口电路即可取得多组压缩测试数据的功效、有效提升测试产出速度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种芯片测试电路，其特征在于，包含有：一第一压缩电路，依据该芯片输出的一第一组反馈信号产生一第一压缩信号，其中该第一组反馈信号包含一第一反馈信号；一第二压缩电路，依据该芯片输出的一第二组反馈信号产生一第二压缩信号，其中该第二组反馈信号包含一第二反馈信号；一判断电路，耦接该第一压缩电路与该第二压缩电路，用以选择性地依据该第一压缩信号、该第二压缩信号、该第一反馈信号、及该第二反馈信号其中之一或其组合产生一判断信号；以及一接口电路，耦接该判断电路，依据该判断信号，产生一测试结果，以判断该芯片是否有瑕疵。
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