[发明专利]半导体封装结构及其制作工艺有效

专利信息
申请号: 201010277149.6 申请日: 2010-09-07
公开(公告)号: CN101976652A 公开(公告)日: 2011-02-16
发明(设计)人: 陈仁川;张惠珊;张文雄;张唯农 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/58;H01L23/13;H01L23/29
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种半导体封装结构及其制作工艺。该半导体封装制作工艺包括:配置封装母板于载具上,封装母板具有立于其上的格栅墙,且格栅墙在封装母板上定义出多个凹部;分别接合多个第一芯片至封装母板的所述多个凹部,其中每一第一芯片内具有多个穿硅导孔;形成第一底胶于每一第一芯片与相应的封装母板之间;形成披覆层于载具上;由载具上方来薄化披覆层以及格栅墙,直至位于格栅墙上方以及第一芯片上方的披覆层被完全移除;接合多个第二芯片至所述多个第一芯片;形成第二底胶于每一第二芯片与相应的第一芯片之间;以及,分离载具与封装母板,并且裁切封装母板,以获得多个封装单元。
搜索关键词: 半导体 封装 结构 及其 制作 工艺
【主权项】:
一种半导体封装制作工艺,包括:配置一封装母板于一载具上,该封装母板具有远离该载具的一承载面以及立于该承载面上的一格栅墙,该格栅墙以及该承载面共同定义出多个凹部;分别接合多个第一芯片至该封装母板的该些凹部,每一第一芯片内具有多个穿硅导孔;形成一第一底胶于每一第一芯片与相应的该封装母板之间;形成一披覆层于该载具上,该披覆层覆盖该封装母板以及该些第一芯片;由该载具上方来薄化该披覆层以及该格栅墙,直至位于该格栅墙上方以及该些第一芯片上方的该披覆层被完全移除;暴露出每一第一芯片内的该些穿硅导孔的一端;接合多个第二芯片至该些第一芯片;形成一第二底胶于每一第二芯片与相应的该第一芯片之间;分离该载具与该封装母板;以及裁切该封装母板,以获得多个封装单元,其中该封装母板被裁切为多个封装基材。
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