[发明专利]蚀刻装置无效
申请号: | 201010278059.9 | 申请日: | 2010-09-10 |
公开(公告)号: | CN102208343A | 公开(公告)日: | 2011-10-05 |
发明(设计)人: | 中田胜利;松元俊二 | 申请(专利权)人: | 住友精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/3213 | 分类号: | H01L21/3213;H01L21/306;H01L21/311 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种生产的前置时间短且可实现小型化的蚀刻装置。本发明的蚀刻装置沿搬送方向依序配设有:搬送基板K的搬送装置2;第1蚀刻部10,其将蚀刻液供给至基板K上以对金属膜进行蚀刻;对金属膜蚀刻后的基板K进行清洗的第1清洗部15;使清洗后的基板K干燥的第1干燥部20;第2蚀刻部30,其使用包含氟系反应成分及氧化性反应成分的处理气体,于大致大气压下,对基板K上的含硅膜进行蚀刻;对含硅膜蚀刻后的基板K进行清洗的第2清洗部35;以及使清洗后的基板K干燥的第2干燥部40。 | ||
搜索关键词: | 蚀刻 装置 | ||
【主权项】:
一种蚀刻装置,其特征在于:其是对至少包含金属膜及其下层的含硅膜的基板的上述金属膜及含硅膜进行蚀刻,该蚀刻装置包括:搬送装置,其朝特定的搬送方向搬送上述基板;第1蚀刻部,其将蚀刻液供给至由上述搬送装置所搬送的基板上,以对上述金属膜进行蚀刻;第1清洗部,其设置于比上述第1蚀刻部更靠近上述搬送方向下游的一侧,且使用清洗液对金属膜蚀刻后的基板进行清洗;第1干燥部,其设置于比上述第1清洗部更靠近上述搬送方向下游的一侧,且使清洗后的基板干燥;第2蚀刻部,其设置于比上述第1干燥部更靠近上述搬送方向下游的一侧,且使用至少包含氟系反应成分及氧化性反应成分的处理气体,在大致大气压下,对上述基板的含硅膜进行蚀刻;第2清洗部,其设置于比上述第2蚀刻部更靠近上述搬送方向下流侧,且使用清洗液对含硅膜蚀刻后的基板进行清洗;以及第2干燥部,其设置于比上述第2清洗部更靠近上述搬送方向下游的一侧,且使清洗后的基板干燥。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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