[发明专利]混合模式集成电路的测试系统及方法无效
| 申请号： | 201010280268.7 | 申请日： | 2010-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN102401878A | 公开（公告）日： | 2012-04-04 |
| 发明（设计）人： | 吴俊毅;王及德;巫秋田 | 申请（专利权）人： | 凌阳科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/303 | 分类号： | G01R31/303;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人： | 程伟;王锦阳 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种混合模式集成电路(mixed-mode IC)的测试系统及方法。该系统包括一模拟至数字转换器接收一测试信号并转换成一数字输入数据。一锁相环接收一第一外部时序信号，以产生一输入时序信号。一时序接脚接收一第二外部时序信号。一先进先出缓冲器依据该输入时序信号，以将数字输入数据写入该先进先出缓冲器中，并依据第二外部时序信号，以读出该先进先出缓冲器的数据。一自动测试装置产生该测试信号、该第一外部时序信号、及该第二外部时序信号，并依据该第二外部时序信号，用以锁存该先进先出缓冲器的数据。 | ||
| 搜索关键词： | 混合 模式 集成电路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于混合模式集成电路的测试系统，包括：一混合模式集成电路，包含：一模拟至数字转换器，接收一测试信号，并将该测试信号转换成一数字输入数据；一锁相环，接收一第一外部时序信号，用以产生一输入时序信号；一时序接脚，接收一第二外部时序信号；及一先进先出缓冲器，连接至该模拟至数字转换器、该锁相环及该时序接脚，依据该输入时序信号，用以将该数字输入数据写入该先进先出缓冲器中，并依据该第二外部时序信号，用以读出该先进先出缓冲器中的数据；以及一自动测试装置，连接至该混合模式集成电路，用以产生该测试信号、该第一外部时序信号、及该第二外部时序信号，并依据该第二外部时序信号，用以锁存该先进先出缓冲器中的数据。
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