[发明专利]一种芯片电路的模拟测试方法和装置有效
| 申请号： | 201010282156.5 | 申请日： | 2010-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN102004811A | 公开（公告）日： | 2011-04-06 |
| 发明（设计）人： | 张敏威;唐亮 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种模拟测试方法，包括：根据芯片电路结构的组合逻辑，设定进程架构。所述进程架构中包括多个进程。根据芯片的电路结构中的组合逻辑的功能，分别为所述多个进程设置功能函数，并且根据芯片的电路结构中的组合逻辑的处理时延，为进程设置延时函数，通过延时函数对功能函数的处理结果进行延时，以使得进程的功能函数的处理结果的产生时间与进程所对应的组合逻辑的数据处理时间相一致；通过缓存将功能函数的处理结果发送给下一个进程。在本发明实施例所提供的模拟测试方法所构造的建模模型中，每个进程通过一个功能函数来记录进程所对应的组合逻辑中的所有处理时延，降低了系统资源的分散程度，提高了系统资源的利用率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 电路 模拟 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于芯片电路的模拟测试方法，其特征在于，包括：根据芯片的电路结构中的多个组合逻辑，设定建模模型的进程架构，所述进程架构中包括多个进程，所述多个进程与所述芯片的多个组合逻辑一一对应；根据芯片的电路结构中的组合逻辑的功能，分别为所述多个进程设置一个或多个功能函数，并且根据芯片的电路结构中的所述组合逻辑的处理时延，为所述进程设置延时函数，通过所述延时函数对功能函数的处理结果进行延时，以使得所述进程的功能函数的处理结果的产生时间与所述进程所对应的组合逻辑的数据处理时间相一致；通过缓存将所述功能函数和延时函数的处理结果发送给下一个进程；输出经过所有进程处理的最终处理结果，根据所述最终处理结果与预设的结果进行比对，以判断芯片电路的有效性。
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