[发明专利]一种光电集成电路芯片的测试系统和测试方法有效
| 申请号： | 201010284974.9 | 申请日： | 2010-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN102401876A | 公开（公告）日： | 2012-04-04 |
| 发明（设计）人： | 方盼;李小明;杨再林 | 申请（专利权）人： | 深圳安博电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于测试领域，提供了一种光电集成电路芯片的测试系统和测试方法，所述系统包括：控制主机、集成电路测试仪、带有硬件内部集成电路总线I2C或者系统管理总线SMBuS协议模块的微处理器MCU、承载有待测试芯片的外围电路的探针卡Prober Card；所述控制主机与集成电路测试仪、ProberCard、MCU连接；所述MCU与Prober Card连接；所述集成电路测试仪用于测试待测试芯片的直流参数。本发明在对光电类集成电路的功能测试时，采用带有硬件I2C或者SMBuS协议的微处理器来实现对芯片功能的测试，可以有效缩短芯片的测试时间，增强测试的稳定性，从整体上降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 集成电路 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种光电集成电路芯片的测试系统，其特征在于，所述系统包括：控制主机、集成电路测试仪、带有硬件内部集成电路总线I2C或者系统管理总线SMBuS协议模块的微处理器MCU、承载有待测试芯片的外围电路的探针卡Prober Card；所述控制主机与集成电路测试仪、Prober Card、MCU连接，用于发送待测试芯片的逻辑功能参数给MCU，还用于接收MCU发送的逻辑功能测试结果并根据接收的逻辑功能测试结果判断待测试芯片的逻辑功能的优劣；所述MCU与Prober Card连接，用于测试待测试芯片的逻辑功能；所述集成电路测试仪用于测试待测试芯片的直流参数。
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