[发明专利]光学材料的内部状态的检查方法以及光学元件的制造方法无效
申请号: | 201010541865.0 | 申请日: | 2010-11-01 |
公开(公告)号: | CN102053094A | 公开(公告)日: | 2011-05-11 |
发明(设计)人: | 金光康中;梅木修 | 申请(专利权)人: | 株式会社小原 |
主分类号: | G01N21/958 | 分类号: | G01N21/958 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫 |
地址: | 日本神奈川县相模原*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的课题在于提供一种能够使用长度短的检查系统且确保广视野、能够正确检查光学材料内部状态的检查方法、以及在短时间内能够制造高品质光学元件的光学元件的制造方法。本发明所涉及的对光学材料OM的内部状态进行检查的检查方法,包括:将来自光源21的漫射光照射到光学材料OM上,基于透射该光学材料OM的透射光,来检查光学材料OM的内部状态的工序。 | ||
搜索关键词: | 光学材料 内部 状态 检查 方法 以及 光学 元件 制造 | ||
【主权项】:
一种检查光学材料的内部状态的检查方法,该检查方法包括以下工序:向光学材料照射漫射光,基于透射该光学材料的透射光,来检查所述光学材料的内部状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社小原,未经株式会社小原许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010541865.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于确定及调节内燃机的废气再循环率的方法及装置
- 下一篇:废气后处理装置