[发明专利]X-ray自动连续式检测设备无效
| 申请号： | 201010545555.6 | 申请日： | 2010-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN102466648A | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 邱鸿智 | 申请（专利权）人： | 邱鸿智 |
| 主分类号： | G01N23/18 | 分类号： | G01N23/18 |
| 代理公司： | 北京汇智英财专利代理事务所 11301 | 代理人： | 张俊阁 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是提供一种X-ray自动连续式检测设备，至少包括：一X-ray检测装置，其具有一辐射光源及一信号处理器，其信号处理器是用以接收辐射光源所产生的能量输出信号；载带，其穿设于辐射光源与信号处理器间，以供X-ray检测装置进行检测，而该载带具有至少一等间距排列的容置槽，以收容芯片元件；以及，一分析系统，电连接该信号处理器，用以分析芯片元件的品质；借此，于X-ray检测装置一可容许的检测区域内，一次检测多个载带上的芯片元件，而可提高检测的效率。 | ||
| 搜索关键词： | ray 自动 连续 检测 设备 | ||
【主权项】：
一种X‑ray自动连续式检测设备，其特征在于，其至少包括：一个X‑ray检测装置，具有一个辐射光源及一个信号处理器，该信号处理器用以接收辐射光源所产生的能量输出信号，且该X‑ray检测装置两侧分别开设有一个入孔及出孔；载带，两端分别穿设于该X‑ray检测装置的入孔及出孔，并置于辐射光源与信号处理器之间以供X‑ray检测装置进行检测，而该载带具有数个等间距排列以收容芯片元件的容置槽；以及，分析系统，电连接该信号处理器以分析芯片元件的品质。
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