[发明专利]掩膜版制作方法及系统有效

专利信息
申请号: 201010560253.6 申请日: 2010-11-25
公开(公告)号: CN102478761A 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 王谨恒;黄旭鑫 申请(专利权)人: 无锡华润上华半导体有限公司;无锡华润上华科技有限公司
主分类号: G03F1/36 分类号: G03F1/36;G06F17/50
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 常亮;李辰
地址: 214028 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明实施例公开了一种掩膜版制作方法及系统,该方法包括:a)确定光刻工艺条件;b)收集设计图形的OPC数据;c)从OPC数据中筛选出设计间距小于临界值的OPC图形数据;d)根据筛选出的OPC图形数据创建OPC模型,建立OPC程序;e)根据OPC程序,对筛选出的OPC数据进行OPC运算;f)验证OPC运算后的图形数据的CD与目标CD的差值是否在误差允许范围内,如果否,返回步骤a)、b)、c)或d),如果是,根据设计图形以及OPC运算后的图形数据制作掩膜版。本发明只对筛选出的设计间距小于临界值的图形数据进行OPC处理,减少了OPC处理的数据量,缩短了OPC运算的时间,进而缩短了掩膜版的制作周期。
搜索关键词: 掩膜版 制作方法 系统
【主权项】:
一种掩膜版制作方法,其特征在于,包括:a)确定光刻工艺条件;b)按照设计图形收集所述光刻工艺条件对应的OPC数据;c)从所述OPC数据中筛选出设计图形中的设计间距小于临界值的OPC图形数据,其中,所述临界值为,在设计图形中,使光刻图形CD与掩膜版图形CD间的差值在误差允许范围内的设计间距,并且,设计间距大于该临界值的设计图形的光刻图形CD与掩膜版图形CD间的差值也在误差允许范围内;d)根据筛选出的所述设计间距小于临界值的OPC图形数据创建OPC模型,由所述OPC模型建立OPC程序;e)根据所述OPC程序,对筛选出的所述设计间距小于临界值的OPC图形数据进行OPC运算;f)验证所述OPC运算后的图形数据的CD与目标CD的差值是否在误差允许范围内,如果否,返回步骤a)、b)、c)或d),如果是,根据所述设计图形以及所述OPC运算后的图形数据制作掩膜版。
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