[发明专利]掩膜版制作方法及系统有效
申请号: | 201010560253.6 | 申请日: | 2010-11-25 |
公开(公告)号: | CN102478761A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 王谨恒;黄旭鑫 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华半导体有限公司;无锡华润上华科技有限公司 |
主分类号: | G03F1/36 | 分类号: | G03F1/36;G06F17/50 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 常亮;李辰 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种掩膜版制作方法及系统,该方法包括:a)确定光刻工艺条件;b)收集设计图形的OPC数据;c)从OPC数据中筛选出设计间距小于临界值的OPC图形数据;d)根据筛选出的OPC图形数据创建OPC模型,建立OPC程序;e)根据OPC程序,对筛选出的OPC数据进行OPC运算;f)验证OPC运算后的图形数据的CD与目标CD的差值是否在误差允许范围内,如果否,返回步骤a)、b)、c)或d),如果是,根据设计图形以及OPC运算后的图形数据制作掩膜版。本发明只对筛选出的设计间距小于临界值的图形数据进行OPC处理,减少了OPC处理的数据量,缩短了OPC运算的时间,进而缩短了掩膜版的制作周期。 | ||
搜索关键词: | 掩膜版 制作方法 系统 | ||
【主权项】:
一种掩膜版制作方法,其特征在于,包括:a)确定光刻工艺条件;b)按照设计图形收集所述光刻工艺条件对应的OPC数据;c)从所述OPC数据中筛选出设计图形中的设计间距小于临界值的OPC图形数据,其中,所述临界值为,在设计图形中,使光刻图形CD与掩膜版图形CD间的差值在误差允许范围内的设计间距,并且,设计间距大于该临界值的设计图形的光刻图形CD与掩膜版图形CD间的差值也在误差允许范围内;d)根据筛选出的所述设计间距小于临界值的OPC图形数据创建OPC模型,由所述OPC模型建立OPC程序;e)根据所述OPC程序,对筛选出的所述设计间距小于临界值的OPC图形数据进行OPC运算;f)验证所述OPC运算后的图形数据的CD与目标CD的差值是否在误差允许范围内,如果否,返回步骤a)、b)、c)或d),如果是,根据所述设计图形以及所述OPC运算后的图形数据制作掩膜版。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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