[发明专利]一种GaAs衬底AlGaInP发光二极管的制备方法无效
申请号: | 201010563296.X | 申请日: | 2010-11-15 |
公开(公告)号: | CN102468382A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 肖志国;林晓文;高百卉;武胜利 | 申请(专利权)人: | 大连美明外延片科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;B28D5/00 |
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地址: | 116025 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 一种GaAs衬底的AlGaInP发光二极管的制备方法:在半切以前,都按正常的工艺流程制作,包括制作电极、研磨、背镀、金属融合步骤,半切时,将芯片正面与粘片机的蓝膜相接触,上片到切割机上,以牺牲了边缘不良品而得到的四条平边为基准线,按照不同芯片的规格尺寸做透切。通过使用背面透切的切割方式,能够减少正表面发光面积的损失,增加发光二极管的出光效率;可以减少背崩,增加发光二极管的良率;可以提高透切时的切割速度,并减少了测试不良品的时间,有效减少工作时间、提高了生产效率;还可以减少测试时对不良品的点墨,同时减少2-3次翻转所需要的费用,有效降低了成本。 | ||
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【主权项】:
一种GaAs衬底AlGaInP发光二极管的制备方法,在进行半切之前按照正常的工艺流程进行制作电极、研磨、背镀、金属融合步骤,其特征在于,半切时步骤如下:(1)将芯片的背面黏附在粘片机上,粘片的温度为常温,然后上片至接触划片式切割机上;(2)正面透切掉上、下、左、右四边的不良品,得到了为背面透切做准备的基准线,透切的条件为切透蓝膜至少10um;(3)按照正常工艺做正面半切,正面半切的深度为40‑80um;(4)下片以及测试;(5)将芯片的正面黏附在粘片机上,粘片温度为55℃,然后上片至接触划片的切割机上;(6)以上、下两条水平边为基准线,切入的深度值比整个芯片厚度少至少10um;(7)水平方向全部透切完成后,将芯片旋转90℃,再以左、右两条平边为基准线,完成垂直方向的全部透切。
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