[发明专利]一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法和系统有效
| 申请号： | 201010567208.3 | 申请日： | 2010-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN101997738A | 公开（公告）日： | 2011-03-30 |
| 发明（设计）人： | 申雅玲 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26 |
| 代理公司： | 北京元本知识产权代理事务所 11308 | 代理人： | 秦力军 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法和系统，该方法包括：将中间设备线路侧的STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系；将中间设备支路侧的N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道并连接SDH测试仪，中间设备线路侧的STM-1接口对接被测设备的STM-1接口；SDH测试仪通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试；其中，N为大于等于2的整数。本发明利用中间设备完成多路E1口串接及其到STM-1接口的映射，通过网管完成对STM-1接口上多路E1口的每路E1口的监控，实现了STM-1接口上多路E1口的同时测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 实现 stm 接口 e1 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种实现STM‑1接口的多路E1口的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：A、将中间设备线路侧的STM‑1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系；B、将中间设备支路侧的N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道；C、将所述N路E1口串联测试通道连接同步数字体系SDH测试仪，并将中间设备线路侧的STM‑1接口对接被测设备的STM‑1接口；以及D、所述SDH测试仪通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM‑1接口的所有E1口同时进行测试；其中，N为大于等于2的整数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中兴通讯股份有限公司，未经中兴通讯股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010567208.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：可调整照射范围多功能台灯
- 下一篇：一种圣诞屋工艺品内部LED灯
