[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201010569544.1 申请日: 2010-11-30
公开(公告)号: CN102237301A 公开(公告)日: 2011-11-09
发明(设计)人: 夏兴国;余致广;邱清华;吴易座 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L21/60;H01L25/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 张浴月;刘文意
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供具有激光蚀刻通孔的半导体装置及其制造方法。在一实施例中,半导体装置的制造方法包含提供一具有一前侧及一后侧的基材,及提供一膜层于此基材的前侧上,此膜层具有与此基材不同的组成。此方法还包含控制激光功率及激光脉冲次数,以激光蚀刻出一贯穿此膜层及此基材至少一部分前侧的开口,以导电材料填入此开口中以形成通孔,移除此基材的一部分的背端以暴露出此通孔,及透过此通孔电性连接一第一元件及一第二元件。此外,本发明亦提供由上述方法所制造的半导体装置。本发明能够提供形成高深宽比通孔。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体装置的制造方法,包括:提供一基材,其具有一前侧及一背侧;提供一膜层于该基材的该前侧上,该膜层与该基材具有不同的组成;控制激光功率及激光脉冲次数,以激光蚀刻出一开口,其贯穿该膜层及该基材前侧的一部分;填入导电材料至该开口中以形成一通孔;移除之该基材背侧的一部分该以暴露出该通孔;以及透过该通孔电性连接一第一元件及一第二元件。
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