[发明专利]半导体装置及其制造方法有效
申请号: | 201010569544.1 | 申请日: | 2010-11-30 |
公开(公告)号: | CN102237301A | 公开(公告)日: | 2011-11-09 |
发明(设计)人: | 夏兴国;余致广;邱清华;吴易座 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/60;H01L25/00 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 张浴月;刘文意 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供具有激光蚀刻通孔的半导体装置及其制造方法。在一实施例中,半导体装置的制造方法包含提供一具有一前侧及一后侧的基材,及提供一膜层于此基材的前侧上,此膜层具有与此基材不同的组成。此方法还包含控制激光功率及激光脉冲次数,以激光蚀刻出一贯穿此膜层及此基材至少一部分前侧的开口,以导电材料填入此开口中以形成通孔,移除此基材的一部分的背端以暴露出此通孔,及透过此通孔电性连接一第一元件及一第二元件。此外,本发明亦提供由上述方法所制造的半导体装置。本发明能够提供形成高深宽比通孔。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体装置的制造方法,包括:提供一基材,其具有一前侧及一背侧;提供一膜层于该基材的该前侧上,该膜层与该基材具有不同的组成;控制激光功率及激光脉冲次数,以激光蚀刻出一开口,其贯穿该膜层及该基材前侧的一部分;填入导电材料至该开口中以形成一通孔;移除之该基材背侧的一部分该以暴露出该通孔;以及透过该通孔电性连接一第一元件及一第二元件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造