[发明专利]特殊封装芯片的测试方法无效
| 申请号： | 201010571098.8 | 申请日： | 2010-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN102012478A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 凌俭波;祁建华;张志勇;汤雪飞;陈燕;叶建明;徐惠;王静 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G08C19/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明的特殊封装芯片的测试方法由包括测试盒、控制中心和测试机的测试系统实施，包括以下步骤：通过所述测试盒向所述控制中心发送操作指令，所述控制中心根据操作指令控制测试机完成相应动作；所述测试机将测得的测试数据传输给所述控制中心，所述控制中心将测试数据发送给所述测试盒，所述测试盒对测试数据进行分析并显示分析结果；本发明是为特殊封装芯片的测试方法利用测试盒作通讯桥梁，操作简便，提高了工作效率，降低了企业生产投入成本，且能直接显示测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 特殊 封装 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种特殊封装芯片的测试方法，由包括测试盒、控制中心和测试机的测试系统实施，其特征在于，包括以下步骤：通过所述测试盒向所述控制中心发送操作指令，所述控制中心根据操作指令控制测试机完成相应动作；所述测试机将测得的测试数据传输给所述控制中心，所述控制中心将测试数据发送给所述测试盒，所述测试盒对测试数据进行分析并显示分析结果；通过所述测试盒向所述控制中心发送操作指令，所述控制中心根据操作指令完成相应动作。
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