[发明专利]特殊封装芯片的测试系统无效
| 申请号： | 201010571438.7 | 申请日： | 2010-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN102012479A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 凌俭波;祁建华;余琨;赵达君;刘远华;陈燕;王锦;季海英 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G08C19/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明的特殊封装芯片的测试系统包括测试机、与所述测试机双向连接的控制中心，以及测试盒，所述测试盒与所述控制中心双向连接；所述测试盒向所述控制中心发送操作指令，所述控制中心根据操作指令控制所述测试机完成相应动作；所述测试机测得的测试数据通过所述控制中心传输给所述测试盒，由所述测试盒进行数据分析后直接显示测试结果。本发明是为特殊封装芯片的测试系统使用方便、工作效率高，且能直接显示测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 特殊 封装 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种特殊封装芯片的测试系统，包括测试机、与所述测试机双向连接的控制中心，其特征在于，还包括测试盒，所述测试盒与所述控制中心双向连接；所述测试盒向所述控制中心发送操作指令，所述控制中心根据操作指令控制所述测试机完成相应动作；所述测试机测得的测试数据通过所述控制中心传输给所述测试盒，由所述测试盒进行数据分析后直接显示测试结果。
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