[发明专利]预清洁测试方法及测试卡无效
| 申请号： | 201010577763.4 | 申请日： | 2010-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN102486501A | 公开（公告）日： | 2012-06-06 |
| 发明（设计）人： | 陈志忠 | 申请（专利权）人： | 旺矽科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;B08B7/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种预清洁测试方法及测试卡，是用于确保探针卡在长时间电性测试期间与待测电子组件维持良好电性接触，不因探针针尖累积污染物造成电性测试不稳定，该预清洁测试方法是于进行电性测试前先以一清洁装置刮除待测电子组件的待测垫表面的不良导电的隔离膜，使之露出一良好导电表面后，在良好导电表面严重氧化或受到污染之前，再以另一测试装置点测该良好导电表面进行电性测试，以维持测试装置的洁净与测试稳定度；以测试生产线作为区分基准，该预清洁测试方法实施方式分为同步作业模式与离线作业模式两种。 | ||
| 搜索关键词： | 清洁 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种预清洁测试方法，包含下列步骤：定位一清洁单元与一待测电子组件，该待测电子组件具备一待测垫，且该待测垫表面形成一隔离膜；利用该清洁单元以接触方式去除该隔离膜，使该待测垫露出一良好导电表面；定位该待测电子组件与一测试单元，使该待测垫的良好导电表面与该测试单元对准；以该测试单元点触待测垫的良好导电表面，据以构成电性连接，并进行电性测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于旺矽科技股份有限公司，未经旺矽科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010577763.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
