[发明专利]有机EL显示器基板的点灯检查设备及其方法无效
| 申请号： | 201010611724.1 | 申请日： | 2010-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN102169094A | 公开（公告）日： | 2011-08-31 |
| 发明（设计）人： | 片冈文雄;松浦宏育;吉武康裕 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01B11/00;H01L27/32;H01L51/56 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;郭凤麟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种有机EL显示器基板的点灯检查设备及其方法，即使最终的面板形式是树脂密封结构也能修复像素缺陷，缺陷修复后的像素的可靠性高，或检查修正的处理时间短、或缺陷修正的成功率高，能够实现自动化且生产率高。在本发明中，向具有使有机EL元件的各像素点灯的点灯检查用专用配线以及专用电极极板的主基板的所述专用电极极板供电，使所述各像素点灯，根据所述点灯结果检测所述各像素中未点灯的缺陷像素及其位置。并且，在密封前对所述缺陷像素的异物照射激光来修复缺陷时，根据所述缺陷的位置信息和大小，经由具有使所述激光透过的透光图案的光掩模照射所述缺陷的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 有机 el 显示器 点灯 检查 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种有机EL显示器基板的点灯检查设备，其特征在于，具有：点灯单元，向具有使有机EL元件的各像素点灯的点灯检查用专用配线以及专用电极极板的主基板的所述专用电极极板供电，使所述各像素点灯；以及缺陷像素检测单元，根据所述点灯结果检测所述各像素中的未点灯的缺陷像素及其位置。
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