[发明专利]一种记忆卡测试方法无效
| 申请号： | 201010612139.3 | 申请日： | 2010-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN102136298A | 公开（公告）日： | 2011-07-27 |
| 发明（设计）人： | 陈志明 | 申请（专利权）人： | 东莞矽德半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 东莞市中正知识产权事务所 44231 | 代理人： | 刘林 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明是关于一种记忆卡测试方法，主要用于自动化测试机，该自动化测试机包括储放管理单元，及一组以上的开卡测试单元，及一组以上的读写测试单元，及移载单元，及控制单元，其步骤为:1).以移载单元将测试物从储放管理单元处移出并送至开卡测试单元;2).开卡测试单元对测试物进行测试;3).通过测试的测试物以移载单元自开卡测试单元处移动至读写测试单元，不通过的测试物则送回储放管理单元对应的置放区；4).读写测试单元对测试物进行读写的测试;5).将测试物依测试结果以移载单元移动至储放管理单元相对应的置放区。其测试效率高，而且测试时间精简，结果正确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 记忆 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种记忆卡测试方法，主要用于自动化测试机，该自动化测试机包括储放管理单元，及一组以上的开卡测试单元，及一组以上的读写测试单元，及移载单元，及控制单元，其步骤为:1).以移载单元将测试物从储放管理单元处移出并送至开卡测试单元;2).开卡测试单元对测试物进行测试;3).通过测试的测试物以移载单元自开卡测试单元处移动至读写测试单元，不通过的测试物则送回储放管理单元对应的置放区；4).读写测试单元对测试物进行读写的测试;5).将测试物依测试结果以移载单元移动至储放管理单元相对应的置放区。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东莞矽德半导体有限公司，未经东莞矽德半导体有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010612139.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：多晶硅铸锭炉隔热装置
- 下一篇：电热水器一体化组合恒温混水阀
