[发明专利]激光器参数测量系统有效

专利信息
申请号: 201010616844.0 申请日: 2010-12-31
公开(公告)号: CN102539114A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 樊仲维;邱基斯;唐熊忻;张晶;张国新 申请(专利权)人: 北京国科世纪激光技术有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100192 北京市海淀区西*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种激光器参数测量系统。该激光器参数测量系统包括一个第一透镜、一个第一楔板、一个第二楔板、一个第三楔板、一个第一图像采集装置、一个第二图像采集装置、一个能量探头和一个波形探头,外部待测量的激光器输出的光束经过所述第一透镜透射到所述第一楔板,经过所述第一楔板反射的光束依次穿过第二楔板、第三楔板进入第一图像采集装置,经过所述第一楔板透射的光束进入所述能量探头,经过所述第二楔板反射的光束进入第二图像采集装置,经过所述第三楔板反射的光束进入所述波形探头。本发明占用空间小、成本低、便于安装及调节,并且其应用范围广泛。
搜索关键词: 激光器 参数 测量 系统
【主权项】:
一种激光器参数测量系统,其特征在于,该激光器参数测量系统包括一个第一透镜、一个第一楔板、一个第二楔板、一个第三楔板、一个第一图像采集装置、一个第二图像采集装置、一个能量探头和一个波形探头,外部待测量的激光器输出的光束经过所述第一透镜透射到所述第一楔板,经过所述第一楔板反射的光束依次穿过第二楔板、第三楔板进入第一图像采集装置,经过所述第一楔板透射的光束进入所述能量探头,经过所述第二楔板反射的光束进入第二图像采集装置,经过所述第三楔板反射的光束进入所述波形探头。
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