[发明专利]液晶显示装置的线路检测结构及检测方法有效

专利信息
申请号: 201010618791.6 申请日: 2010-12-30
公开(公告)号: CN102540508A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 黄贤军 申请(专利权)人: 上海天马微电子有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G02F1/1362;G01R31/02;G01N27/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201201 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种液晶显示装置的线路检测结构及检测方法,其中线路检测结构包括:第一检测结构,包括第一短路棒、第一测试端子和第二短路棒、第二测试端子;第二检测结构,包括第一控制线、第一控制开关、第一控制端子、第二控制线、第二控制开关、第二控制端子、第三短路棒和第三测试端子。本发明通过增加第二检测结构,在判定存在扫描线线缺陷的基础上确定所述线缺陷的类型,以解决现有检测结构无法判定线缺陷类型而直接将产品报废导致成本上升的问题。本发明还提供一种液晶显示装置的扫描线线缺陷的修复结构及修复方法,可以方便修复扫描线连接线断路或过孔结构损坏引起的线缺陷。
搜索关键词: 液晶 显示装置 线路 检测 结构 方法
【主权项】:
一种液晶显示装置的线路检测结构,所述液晶显示装置包括阵列基板,所述阵列基板包括显示区域和外围区域,在所述显示区域上设有扫描线、数据线和扫描线连接线,所述外围区域设置有线路检测结构,所述线路检测结构包括:第一检测结构,用于检测所述阵列基板是否存在扫描线的线缺陷,包括第一短路棒、第一测试端子和第二短路棒、第二测试端子;所述第一短路棒与所述数据线通过过孔结构连接;所述第一测试端子与所述第一短路棒连接,提供测试信号至数据线;所述第二短路棒与所述扫描线连接线通过过孔结构连接;所述第二测试端子与所述第一短路棒连接,提供测试信号至扫描线连接线;第二检测结构,用于确定所述扫描线的线缺陷的缺陷类型,包括第一控制线、第一控制开关、第一控制端子、第二控制线、第二控制开关、第二控制端子、第三短路棒和第三测试端子;所述第一控制线与所述第一控制开关和所述第一控制端子相连接,所述第一控制端子通过所述第一控制线提供控制信号至所述第一控制开关;所述第一控制开关与所述数据线和所述扫描线连接线相连接,控制所述数据线和所述扫描线连接线的通断;所述第二控制线与所述第二控制开关和所述第二控制端子相连接,所述第二控制端子通过所述第二控制线提供控制信号至所述第二控制开关;所述第二控制开关与所述扫描线连接线和所述第三短路棒连接,控制所述扫描线连接线和所述第三短路棒的通断;所述第三测试端子与所述第三短路棒连接,提供测试信号至所述扫描线连接线。
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