[发明专利]倒装芯片型半导体背面用膜有效
申请号: | 201010621793.0 | 申请日: | 2010-12-24 |
公开(公告)号: | CN102153960A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 高本尚英;松村健;志贺豪士 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | C09J7/02 | 分类号: | C09J7/02;H01L21/77;H01L21/68;H01L21/50;H01L23/488 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种倒装芯片型半导体背面用膜,其形成于倒装芯片连接至被粘物的半导体元件的背面上,所述膜包括晶片粘合层和激光标识层,其中所述晶片粘合层对于波长为532nm的光具有40%以上的透光率,以及所述激光标识层对于波长为532nm的光具有小于40%的透光率。 | ||
搜索关键词: | 倒装 芯片 半导体 背面 | ||
【主权项】:
一种倒装芯片型半导体背面用膜,其形成于倒装芯片连接至被粘物的半导体元件的背面上,其中所述膜包括晶片粘合层和激光标识层,和其中,所述晶片粘合层对于波长为532nm的光具有40%以上的透光率,以及所述激光标识层对于波长为532nm的光具有小于40%的透光率。
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