[发明专利]用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的方法无效
| 申请号： | 201010623793.4 | 申请日： | 2010-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN102565029A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 闫雅坤;陈晓宇;韩鹏 | 申请（专利权）人： | 北京有色金属与稀土应用研究所 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 朱丽华 |
| 地址： | 100012*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的方法，其特征在于具体方法如下：加入硫酸溶解待测纯银试样；待试样完全溶解后，加盐酸，煮沸至澄清，冷却，分离试样的基体银；沉淀细化；补加10％的盐酸，用去离子水定容到刻度；启动电感耦合等离子体发射光谱仪，打开分析控制软件，点击“点火”按钮，形成稳定的等离子炬焰，然后进行全波段扫描，完成光路校正后，选择进入数据控制程序，选择待测元素的谱线，设定曲线浓度值，依次浓度由低到高将标准曲线溶液进行测定，测定后即可在数据状态栏得出相关参数。该方法具有耗费样品少、测试周期短、分析元素种类多、准确度高、可靠性好、精密度高、增值干扰小等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 用电 耦合 等离子体 发射 光谱仪 测定 纯银中 杂质 方法 | ||
【主权项】：
一种用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的方法，其特征在于：选择硫酸溶解待测纯银样品，其后用盐酸沉淀溶液中存在的银离子，采用基体分离的方法测定高纯银中的痕量杂质元素。
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