[实用新型]拼组式的模拟测试电路系统有效
申请号: | 201020162337.X | 申请日: | 2010-04-07 |
公开(公告)号: | CN201741144U | 公开(公告)日: | 2011-02-09 |
发明(设计)人: | 陈敏郎;张维轩 | 申请(专利权)人: | 英业达股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;张燕华 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种拼组式的模拟测试电路系统,包括有多个基板及多个电子零组件。其中,多基板分别具有至少一拼接部,且相邻的各基板的拼接部相互匹配,借以将各基板相互拼接至一模拟拼接位置。而多电子零组件分别设置在各基板上,各电子零组件具有一实际排列位置,各基板依据此实际排列位置而对应调整模拟拼接位置。本实用新型可依据电子零组件的实际排列位置,而对应改变各基板之间的模拟拼接位置,以有效地模拟出这些电子零组件的最佳安装位置,进而提高主机板的测试效率及节省整体测试时间。 | ||
搜索关键词: | 拼组式 模拟 测试 电路 系统 | ||
【主权项】:
一种拼组式的模拟测试电路系统,其特征在于,包括:多个基板,各该基板具有至少一拼接部,相邻的各该基板的该拼接部相互匹配,借以将各该基板相互拼接至一模拟拼接位置;以及多个电子零组件,各该电子零组件分别设置在各该基板上,各该电子零组件具有一实际排列位置,各该基板根据该实际排列位置而对应调整该模拟拼接位置。
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