[实用新型]一种半导体硅应变片传感器的检测设备有效
| 申请号： | 201020163256.1 | 申请日： | 2010-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN201749088U | 公开（公告）日： | 2011-02-16 |
| 发明（设计）人： | 李浩然;万凌云;宋艳 | 申请（专利权）人： | 精量电子(深圳)有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/84 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518017 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种半导体硅应变片传感器的检测设备，包括第一数码镜头、第二数码镜头、工作台、第一显示器、第二显示器和数据处理器，其中，所述第一数码镜头和第二数码镜头均安装于工作台上且分别与数据处理器电连接，所述第一显示器和第二显示器分别与数据处理器电连接。采用以上技术方案后，所述数码镜头可将放置于工作台上的半导体硅应变片传感器进行拍摄并将拍摄图像传输到数据处理器，拍摄图像经数据处理器处理后传输到显示器，在显示器中就显示出中半导体硅应变片传感器的放大图像。所述数据处理器还能将显示器中的放大图像进行识别并提取关键技术特征，依照预先设定的标准与提取的技术特征进行对比并作出合格/不合格的判断。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 应变 传感器 检测 设备 | ||
【主权项】：
一种半导体硅应变片传感器的检测设备，其特征在于：包括一检测半导体硅应变片传感器外观的第一数码镜头、一检测半导体硅应变片传感器上应变片位置的第二数码镜头、工作台、第一显示器、第二显示器和数据处理器，其中，所述第一数码镜头和第二数码镜头均安装于工作台上且分别与数据处理器电连接，所述第一显示器和第二显示器分别与数据处理器电连接。
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