[实用新型]一种集成电路芯片测试系统有效

专利信息
申请号: 201020232310.3 申请日: 2010-06-23
公开(公告)号: CN201773169U 公开(公告)日: 2011-03-23
发明(设计)人: 刘华;张超;沈慧 申请(专利权)人: 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 代理人: 王来佳
地址: 300384 天津市南开区华*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型涉及一种集成电路芯片测试系统,包括芯片测试机和控制机,芯片测试机由机壳、测试机主板、功能板卡及芯片载板连接构成,测试机主板及功能板卡设置在机壳内并且功能板卡安装在测试机主板上,芯片载板安装在机壳表面并与测试机主板相连接,其特征在于:所述的功能板卡为具有PXI接口的PXI功能板卡,PXI功能板卡安装在测试机主板上设有的PXI插槽内。本实用新型采用模块化设计并使用PXI功能卡与测试机主板安装在一起,降低了系统的复杂性,方便了系统的扩展,具有高速、低功耗、低成本、高性价比、稳定性好并且使用方便等特点,从而大大降低了测试成本,满足了研发、设计和生产测试工程师的需求。
搜索关键词: 一种 集成电路 芯片 测试 系统
【主权项】:
一种集成电路芯片测试系统,包括芯片测试机和控制机,芯片测试机由机壳、测试机主板、功能板卡及芯片载板连接构成,测试机主板及功能板卡设置在机壳内并且功能板卡安装在测试机主板上,芯片载板安装在机壳表面并与测试机主板相连接,其特征在于:所述的功能板卡为具有PXI接口的PXI功能板卡,PXI功能板卡安装在测试机主板上设有的PXI插槽内。
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