[实用新型]采用探针卡级瞳孔透镜的晶圆级CIS测试装置无效
| 申请号： | 201020570180.4 | 申请日： | 2010-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN201859198U | 公开（公告）日： | 2011-06-08 |
| 发明（设计）人： | 李明 | 申请（专利权）人： | 李明 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/08;G01R1/067 |
| 代理公司： | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人： | 夏平 |
| 地址： | 213000 江苏省常*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种采用探针卡级瞳孔透镜的晶圆级CIS测试装置，它包括校验卡（2）和透镜（4），所述的透镜（4）安装测试装置的在挡板上，校验卡（2）安装在测试装置的LED背光源（1）上，与透镜（4）的透射区域相对位置处。本实用新型的晶圆级CIS图像测试的探针卡瞳孔镜头，在LED光源发出杂乱无章的各方向的光线后，在通过密闭通光圆筒时，经过错落分布在筒壁上的各级挡板反射掉部分非平行光，最终经过光学透镜将光线进行筛选，只有垂直入射光线才被允许通过，从而为晶圆级CIS图像测试提供稳定的光源。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 探针 瞳孔 透镜 晶圆级 cis 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种采用探针卡级瞳孔透镜的晶圆级CIS测试装置，其特征是它包括校验卡（2）和透镜（4），所述的透镜（4）安装测试装置的在挡板上，校验卡（2）安装在测试装置的LED背光源（1）上，与透镜（4）的透射区域相对位置处。
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