[实用新型]探针框架及具有该探针框架的基板测试装置

摘要

本实用新型提供一种探针框架及具有该探针框架的基板测试装置，属于液晶显示基板测试技术领域，其可解决现有的探针框架不能使探针与基板形成良好接触的问题。本实用新型的探针框架包括：用于与探针框架轨道接触的外框；用于连接探针的中间棒；中间棒的两端部通过高度调整结构与外框连接，高度调整结构用于沿探针框架的高度方向调整中间棒与外框的相对位置，在对基板进行测试时探针框架的高度方向与基板的表面垂直。本实用新型的基板测试装置包括上述探针框架。本实用新型可用于对阵列基板上的薄膜晶体管阵列电路进行测试。

主权项

一种探针框架，包括：用于与探针框架轨道接触的外框；用于连接探针的中间棒；其特征在于，所述中间棒的两端部通过高度调整结构与所述外框连接，所述高度调整结构用于沿所述探针框架的高度方向调整所述中间棒与外框的相对位置，在对基板进行测试时所述探针框架的高度方向与所述基板的表面垂直。