[实用新型]降低高频损耗的高频晶体管无效

专利信息
申请号: 201020672526.1 申请日: 2010-12-21
公开(公告)号: CN201994301U 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 刘翠莲 申请(专利权)人: 深圳市安晶半导体电子有限公司
主分类号: H01L29/72 分类号: H01L29/72;H01L29/43
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种降低高频损耗的高频晶体管,包括外延片,其特征在于,所述外延片背面设有背金层,所述背金层包括金属Pt层、Ni层、Cr层、W层、Au层,所述由Pt层、Ni层、Cr层、W层、Au层所形成的背金层的总厚度为1±0.17μm,所述外延片与背金层总厚度小于120微米,本实用新型经超减薄后采用五层金属依次溅射在外延片背面,在构成外延片的Si(硅)层、Pt(铂)层、Ni(镍)层、Cr(铬)层、W(钨)层、Au(金)层中,相邻层材料之间具有良好的匹配性,可以相互之间的接触电阻达到最小,最终导致整体的接触电阻都较小,提高了高频特性,本实用新型应用在微电子电路中,能耗低,寿命长。
搜索关键词: 降低 高频 损耗 晶体管
【主权项】:
一种降低高频损耗的高频晶体管,包括外延片,其特征在于:所述外延片(1)背面设有背金层,所述背金层包括Pt层、Ni层、Cr层、W层、Au层。
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