[发明专利]荧光X射线分析方法有效
| 申请号： | 201080002934.9 | 申请日： | 2010-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN102187208A | 公开（公告）日： | 2011-09-14 |
| 发明（设计）人： | 渡边健二;片冈由行;山田康治郎;森川敦史 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/203 |
| 代理公司： | 北京三幸商标专利事务所 11216 | 代理人： | 刘激扬 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种荧光X射线分析方法，其中：对以碳、氧和氮中的至少一个元素和以氢为主成分的液体试样(3A)照射一次X射线(2)，测定：由液体试样(3A)中的原子序号9～20的各元素产生的荧光X射线(4)的强度、以及在液体试样(3A)中散射的一次X射线的连续X射线的散射线(12)的强度，根据由各元素产生的荧光X射线(4)的测定强度和一次X射线的连续X射线的散射线(12)的测定强度的比，计算液体试样(3A)的元素的浓度，一次X射线的连续X射线的散射线(12)的波长按照下述方式设定，该方式为：其短于由各元素产生的荧光X射线(4)的波长，并且在液体试样(3A)的组成的变化范围内，一次X射线的连续X射线的散射线(12)的测定强度和质量吸收系数成反比。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 射线 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种荧光X射线分析方法，其中：对以碳、氧和氮中的至少一个元素以及氢为主成分的液体试样照射一次X射线；测定：由上述液体试样中的原子序号9～20的各元素产生的荧光X射线的强度、在上述液体试样中散射的一次X射线的连续X射线的散射线的强度；根据由上述各元素产生的荧光X射线的测定强度和上述一次X射线的连续X射线的散射线的测定强度的比，计算上述液体试样中的元素的浓度，其特征在于，上述一次X射线的连续X射线的散射线的波长按照下述方式设定，该方式为：其短于由上述各元素产生的荧光X射线的波长，并且在上述液体试样的组成的变化范围内，上述一次X射线的连续X射线的散射线的测定强度和质量吸收系数成反比。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理学，未经株式会社理学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080002934.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
