[发明专利]半导体晶片接合体、半导体晶片接合体的制造方法和半导体装置无效

专利信息
申请号: 201080008949.6 申请日: 2010-02-15
公开(公告)号: CN102326249A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 出岛裕久;川田政和;米山正洋;高桥丰诚;白石史广;佐藤敏宽 申请(专利权)人: 住友电木株式会社
主分类号: H01L23/02 分类号: H01L23/02;H01L23/10;H01L27/14
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 崔香丹;洪燕
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的半导体晶片接合体,其特征在于,包含:半导体晶片;设置在所述半导体晶片的功能面侧的透明基板;设置在所述半导体晶片与所述透明基板之间所设置的隔片;以及沿着所述半导体晶片的外周连续设置的、用于接合所述半导体晶片与所述透明基板的接合部。优选所述接合部的最小宽度为50μm以上。
搜索关键词: 半导体 晶片 接合 制造 方法 装置
【主权项】:
一种半导体晶片接合体,其特征在于,包含:半导体晶片;设置在前述半导体晶片的功能面侧的透明基板;设置在前述半导体晶片与前述透明基板之间的隔片;以及沿着前述半导体晶片的外周连续设置的、用于接合前述半导体晶片与前述透明基板的接合部。
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