[发明专利]带电粒子束装置以及图像显示方法有效
申请号: | 201080035234.X | 申请日: | 2010-07-20 |
公开(公告)号: | CN102484025A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 平户达也;小室浩之;川俣茂 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | H01J37/147 | 分类号: | H01J37/147;H01J37/153;H01J37/22 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;郭凤麟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种带电粒子束装置,其具有带电粒子源、对从带电粒子源放出的一次带电粒子束(3)进行聚焦的物镜(12)、在试样上扫描一次带电粒子束(3)的扫描偏转器(11)、检测通过一次带电粒子束的扫描而从试样发生的信号粒子的检测器,使用检测器的信号粒子取得试样图像,所述带电粒子束装置的特征在于,具备:使一次带电粒子束向试样的照射角偏转的偏转器(10);使电流流过偏转器的独立的第一以及第二电源(24、36);以及以一次带电粒子束的扫描的一行单位或一帧单位切换从两个电源施加的电压的开关(34)。 | ||
搜索关键词: | 带电 粒子束 装置 以及 图像 显示 方法 | ||
【主权项】:
一种带电粒子束装置,具有:带电粒子源、使从所述带电粒子源放出的一次带电粒子束进行聚焦的物镜、在试样上扫描所述一次带电粒子束的扫描偏转器、检测通过所述一次带电粒子束的扫描而从试样发生的信号粒子的检测器,所述带电粒子束装置使用所述检测器的信号粒子取得试样图像,其特征在于,具备:使所述一次带电粒子束向试样的照射角偏转的偏转器;使电流流过该偏转器的独立的第一以及第二电源;以及以所述一次带电粒子束的扫描的一行单位或一帧单位切换该两个电源的开关。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立高新技术,未经株式会社日立高新技术许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201080035234.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:功率转换系统及不间断供电电源系统
- 下一篇:多层变压器开关