[发明专利]调制后的被测试信号的测试装置以及测试方法无效
| 申请号： | 201080037527.1 | 申请日： | 2010-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN102483440A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 石田雅裕;渡边大辅;冈安俊幸 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华;郭红丽 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 测试装置(2)对来自DUT(1)的调制后的被测试信号(S1)进行测试。交叉定时数据生成部(10)用于生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示被测试信号(S1)的电平分别与多个阈值进行交叉的定时。期望值数据生成部(30)用于生成定时期望值数据，所述定时期望值数据表示在将被测试信号(S1)所期望的期望值波形(S2)与多个阈值进行比较时期望值波形与各阈值进行交叉的定时。定时比较部(40)对交叉定时数据与定时期望值数据进行比较。 | ||
| 搜索关键词： | 调制 测试 信号 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种测试装置，其对来自被测试设备的调制后的被测试信号进行测试，其特征在于，包括：交叉定时测定部，其用于生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示所述被测试信号的电平分别与多个阈值进行交叉的定时；期望值数据生成部，其用于生成定时期望值数据，所述定时期望值数据表示在将所述被测试信号所期望的期望值波形与所述多个阈值进行比较时所述期望值波形与各阈值进行交叉的定时；比较部，其用于比较所述交叉定时数据与所述定时期望值数据。
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