[发明专利]用于制造集成电路的方法和产生的膜芯片有效

专利信息
申请号: 201080039645.6 申请日: 2010-07-06
公开(公告)号: CN102484106A 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 约阿希姆·布尔加尔茨;克里斯蒂娜·阿朗特 申请(专利权)人: 斯图加特微电子研究所
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/538;H01L21/68
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张春水;田军锋
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 通过将半导体衬底(12)设置在膜件(18)的凹槽(22)中的方式,将具有第一表面延伸的半导体衬底(12)与具有第二表面延伸的柔性膜件(18)组合。半导体衬底(12)具有借助光刻工艺步骤产生的电路结构(14)。在将半导体衬底(12)设置在膜件(18)的凹槽(22)中之后,借助光刻工艺步骤在半导体衬底(12)和膜件(18)之上产生由导电材料组成的结构化层(36)。结构化层(36)从半导体衬底(12)延伸至柔性的膜件(18)并且形成在半导体衬底(12)和膜件(18)之间的导电接触轨(38,40)。
搜索关键词: 用于 制造 集成电路 方法 产生 芯片
【主权项】:
用于制造集成电路的方法,所述方法具有如下步骤:‑提供具有第一表面延伸(16)的半导体衬底(12),‑借助光刻工艺步骤在所述半导体衬底(12)中产生电路结构(14),‑提供柔性的第一膜件(18),所述第一膜件具有大于所述第一表面延伸(16)的第二表面延伸(20),并且在所述表面延伸中具有凹槽(22),‑将所述半导体衬底(12)设置在所述凹槽(22)中,以及‑借助光刻工艺步骤在所述半导体衬底(12)和所述柔性的第一膜件(18)上产生由导电材料组成的结构化的层(36),其中所述结构化层(36)从所述半导体衬底(12)延伸至所述柔性的第一膜件(18)并且形成在所述半导体衬底和所述第一膜件(18)之间的多个导电接触轨(38,40)。
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