[发明专利]用于制造集成电路的方法和产生的膜芯片有效
申请号: | 201080039645.6 | 申请日: | 2010-07-06 |
公开(公告)号: | CN102484106A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 约阿希姆·布尔加尔茨;克里斯蒂娜·阿朗特 | 申请(专利权)人: | 斯图加特微电子研究所 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L23/538;H01L21/68 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张春水;田军锋 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 通过将半导体衬底(12)设置在膜件(18)的凹槽(22)中的方式,将具有第一表面延伸的半导体衬底(12)与具有第二表面延伸的柔性膜件(18)组合。半导体衬底(12)具有借助光刻工艺步骤产生的电路结构(14)。在将半导体衬底(12)设置在膜件(18)的凹槽(22)中之后,借助光刻工艺步骤在半导体衬底(12)和膜件(18)之上产生由导电材料组成的结构化层(36)。结构化层(36)从半导体衬底(12)延伸至柔性的膜件(18)并且形成在半导体衬底(12)和膜件(18)之间的导电接触轨(38,40)。 | ||
搜索关键词: | 用于 制造 集成电路 方法 产生 芯片 | ||
【主权项】:
用于制造集成电路的方法,所述方法具有如下步骤:‑提供具有第一表面延伸(16)的半导体衬底(12),‑借助光刻工艺步骤在所述半导体衬底(12)中产生电路结构(14),‑提供柔性的第一膜件(18),所述第一膜件具有大于所述第一表面延伸(16)的第二表面延伸(20),并且在所述表面延伸中具有凹槽(22),‑将所述半导体衬底(12)设置在所述凹槽(22)中,以及‑借助光刻工艺步骤在所述半导体衬底(12)和所述柔性的第一膜件(18)上产生由导电材料组成的结构化的层(36),其中所述结构化层(36)从所述半导体衬底(12)延伸至所述柔性的第一膜件(18)并且形成在所述半导体衬底和所述第一膜件(18)之间的多个导电接触轨(38,40)。
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