[发明专利]用于控制涂覆沉积的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201080046136.6 申请日: 2010-09-02
公开(公告)号: CN102597316A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: M·拉加拉;J·蒂卡宁 申请(专利权)人: BENEQ有限公司
主分类号: C23C16/52 分类号: C23C16/52;C03C17/00;C23C16/455;C23C4/00;C23C14/52;C23C14/54;B05D1/10;B05D1/02;G01N15/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 汪宇伟
地址: 芬兰*** 国省代码: 芬兰;FI
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摘要: 用于控制涂覆沉积工艺的方法和设备,其中至少在涂覆沉积工艺的一个阶段,涂覆前体中的至少一种包含气体、蒸气或气溶胶。该方法包括监测超细颗粒和根据该监测调节至少一个工艺参数。所述设备包含用于监测超细颗粒的装置(13)和用于根据该监测调节至少一个工艺参数的装置(14)。
搜索关键词: 用于 控制 沉积 方法 设备
【主权项】:
一种用于控制涂覆沉积工艺的方法,其中至少在涂覆沉积工艺的一个阶段,涂覆前体或反应产物中的至少一种包含气体、蒸气或气溶胶,该方法包括监测超细颗粒和根据该监测调节至少一个工艺参数。
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