[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201080067573.6 | 申请日: | 2010-06-24 |
公开(公告)号: | CN103109369A | 公开(公告)日: | 2013-05-15 |
发明(设计)人: | 今田忠纮 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | H01L27/095 | 分类号: | H01L27/095;H01L21/338;H01L29/778;H01L29/812 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 舒艳君;李洋 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及半导体装置。该半导体装置中设有:具备沿基板(1)的厚度方向层叠的电子渡越层(5)以及电子供给层(6)的晶体管;在基板(1)的上方与电子渡越层(5)以及电子供给层(6)平行地形成的电子渡越层(3);与电子渡越层(3)肖特基接合的阳极电极(12a);以及与电子渡越层(3)欧姆接合的阴极电极(13d)。阳极电极(12a)与晶体管的源极连接,阴极电极(13d)与晶体管的漏极连接。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,具有:基板;晶体管,其具备沿所述基板的厚度方向层叠的第一电子渡越层以及电子供给层;第二电子渡越层,其在所述基板的上方与所述第一电子渡越层以及所述电子供给层平行地形成;阳极电极,其与所述第二电子渡越层肖特基接合;以及阴极电极,其与所述第二电子渡越层欧姆接合,其中,所述阳极电极与所述晶体管的源极连接,所述阴极电极与所述晶体管的漏极连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的