[发明专利]有机发光显示器密封盖板Mark点的加工方法

摘要

本发明公开了一种有机发光显示器密封盖板Mark点的加工方法，属于有机发光显示器的密封技术领域，其在密封盖板掩膜曝光过程中，在对盖板尺寸进行定位的同时实现对Mark点定位，定位方法是在密封盖板的上下两表面各附着一张定位胶片基板，各定位胶片基板上均标注有密封盖板的图形尺寸和Mark点的相对位置，由此实现对Mark点的定位。本发明有机发光显示器密封盖板Mark点的加工方法，将Mark点定位和曝光同时进行，极大缩小了定位误差，实现了标识清晰、定位精确、易被生产线自动识别等技术突破，并缩短了加工时间，提高了生产效率。

主权项

一种有机发光显示器密封盖板Mark点的加工方法，其特征在于包括如下步骤：⑴ 密封盖板掩膜曝光过程中，在对盖板尺寸进行定位的同时实现对Mark点定位，定位方法是在密封盖板的上下两表面各附着一张定位胶片基板，各定位胶片基板上均标注有密封盖板的图形尺寸和Mark点的相对位置；⑵ 将曝光好的密封盖板放置到加工中心操作台上，钻头对准经步骤 ⑴ 而得到的Mark定位点；⑶ 启动加工中心，钻头转速为1700‑2100转/秒，钻头角度为垂直于密封盖板，运转时间为2‑4秒；⑷ 按步骤⑵‑⑶加工其他三个Mark点；⑸ 将加工好的Mark点放在检验仪器上进行精度检验。